電弱點(diǎn)測(cè)試儀的介紹

　　據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)(電弱點(diǎn))數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)，那如何進(jìn)行測(cè)試呢？
 

　　此時(shí)就用到了電弱點(diǎn)測(cè)試儀。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無(wú)須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生過(guò)程中極易引起縱向劃傷，該儀器*引用“電弱線”概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電流均超過(guò)1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過(guò)程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線”，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和，這樣的測(cè)試數(shù)據(jù)史能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)顯水平，且有助于分析生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題，從而有針對(duì)地提出解決問(wèn)題的方案。