還原真實高溫工況：HPZT-800 高溫d33壓電系數測試儀

壓電材料的高溫d33穩定性，直接決定傳感器、驅動器、換能器等器件的服役壽命與復雜工況可靠性。溫度升高易引發晶格畸變、偶極子失序與電荷衰減，如何準確捕捉d33隨溫度的變化規律，已成為材料研發、器件選型與可靠性驗證的痛點問題。

華測儀器 HPZT-800 高溫d33壓電系數測試儀，是為高溫環境下壓電材料表征而設計，從溫場控制、信號采集到工況模擬，為高溫壓電性能測試提供解決方案。

寬溫準確控溫，還原真實熱環境

覆蓋室溫～650℃連續變溫測試區間，搭載高準度 PID 閉環控溫系統，溫度穩定度達±0.05℃（＞25℃）、±0.1℃（＜25℃），溫場均勻無梯度漂移，可準確鎖定居里溫度與性能拐點，為 d33-T 曲線提供可靠溫度基準。

工況級模擬設計，減少測試干擾

采用真空電極 + 直流線性加熱技術，減少渦流噪聲與熱釋電干擾，復刻器件在汽車電子、能源裝備等應用場景的高溫服役狀態，區分材料本征性能與環境偽信號，測試數據更貼近工程應用。

高準度弱信號采集，高溫下不失真

采用FPGA 數字頻率合成技術與高阻放電荷放大器，實現0.01pC/N電荷分辨率，d33量程覆蓋10~10000pC/N，測試頻率30~140Hz連續可調。在高溫信號大幅衰減、背景噪聲顯著增強的嚴苛條件下，仍可穩定捕捉微弱壓電響應，確保測量準確與重復性。

全流程自動化，產出測試數據

支持全自動升溫 / 降溫 / 保溫測試流程，一鍵生成d33- 溫度壓電溫譜圖，可自定義溫控程序、導出原始數據與標準報告，大幅減少人為誤差、縮短試驗周期，長期運行穩定可靠，優化研發與質檢效率。

普遍適配多場景應用

普遍適配壓電陶瓷、壓電高分子、鐵電單晶、壓電復合材料等多種功能材料，同時滿足壓電器件、高溫傳感器、執行器的性能評價、壽命預測與可靠性認證需求，是材料實驗室、器件廠商等的表征裝備。

華測儀器的業務涵蓋從單臺測試設備供應到整體實驗室規劃建設的全過程。建設絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設計到交付驗收的完整服務。