寬溫域多通道—華測儀器長期電熱老化測試系統

　　材料長期老化風險難以預判、老化性能數據難獲取？華測儀器Huace-LHD-4 長期電熱老化試驗平臺，是為電子材料、絕緣介質、壓電陶瓷等試樣長期電熱老化測試而設計，解決材料長期老化工況模擬難、測試一致性差、試驗易中斷等行業痛點。
 

　　設備標配5 單獨測試通道，支持按需定制通道數量，適配多批次、多試樣同步測試需求；采用多路并行單獨測控架構，每路溫場、電壓、時間等參數可單獨自行設置，各通道極化互不干擾，測試互不影響，大幅優化試驗效率與對比性。
 

　　搭載-40℃～150℃寬溫域溫控系統，可準確模擬高低溫交變、恒溫存續等多種復雜服役工況，真實復現材料實際應用環境，還原長期老化衰減規律；0～1kV 標準輸出電壓范圍，支持高壓量程定制，滿足不同耐壓等級材料的極化老化測試要求。
 

　　整機支持24 小時不間斷連續運行，溫控精度可達±0.5℃，電壓波動為≤±1%，全程參數穩定可控，從源頭保障老化試驗數據準確可靠、可追溯。
 

　　內置電磁屏障腔體 + 冗余供電雙保障系統，可減少外界電磁干擾、規避電網電壓波動影響，減少環境擾動與供電異常造成的試驗中途中斷，保障長期老化試驗穩定閉環運行。
 

　　采用模塊化集成設計，可靈活拓展真空環境、腐蝕氣體、濕度氛圍等選配環境模塊，可適配多場景老化測試研發需求；標配過壓、過流、過溫多重智能自動保護機制，實時監控設備與試樣狀態，異常即刻自動斷電防護，保障試驗過程穩定與設備使用壽命。