CTI 與 PTI 標準化測試：HCLD-2 漏電起痕試驗儀技術詳解

華測儀器 HCLD-2 低壓漏電起痕試驗儀用于檢測固體絕緣材料表面耐漏電蝕損性能，準確測定相比電痕化指數 (CTI)、耐電痕化指數 (PTI)，為材料絕緣可靠性驗證、產品安規認證提供準確試驗依據。

設備配備低通濾波電流監測單元，濾除測試雜波干擾，穩定采集漏電電流信號，保障檢測數據重復性；搭載過壓、過流、門限多重防護功能，出現擊穿、電壓電流異常時切斷回路，多角度守護設備與人員操作穩定。

配套自研 Huace Pro 智能測試軟件，具備斷電自動存檔功能，試驗數據、實時曲線與試樣圖像均可完整留存，重啟后一鍵恢復測試記錄；內置多套主流檢測標準，可直接調用，同時支持自定義試驗參數。

整機可調參數覆蓋多元測試需求：試驗電壓 100V~1000V 可按需定制，滴液高度 30~40mm 連續調節，滴液間隔 1s~999s 可設置。設備支持兩種試驗終止邏輯，可設定50滴、100滴定量停機；若檢測到漏電流≥0.5A 并持續 2s，將自動判定試樣電痕擊穿并結束試驗，判定邏輯符合標準。

儀器普遍應用于電工電子元器件、半導體封裝基材、改性工程塑料、家電絕緣零部件、新能源絕緣墊片等行業，滿足研發性能測試、來料質檢、第三方實驗室認證檢測等多種場景使用。