寬頻高溫 d33 測試系統

產品型號：HPZT-800

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-04-21

產品簡介：

華測儀器HPZT-800寬頻高溫 d33 測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HPZT-800寬頻高溫 d33 測試系統由華測儀器生產，采用FPGA數字技術為激振器提供穩定的測試頻率，基于華測公司在弱信號采集技術的優勢，設計的一款用于高溫環境下的壓電系數測試儀器，相對傳統的d33測量儀測量精度效果好，測量量程范圍寬，可靠性提升，操作便捷。

華測儀器的業務涵蓋從單臺測試設備供應到整體實驗室規劃建設的全過程。建設絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設計到交付驗收的完整服務。

產品參數

儀器參數

測試頻率：調節范圍30Hz~140Hz

                      精度：±0.1Hz

測試載荷：靜態力10N

                      振蕩測試載荷：0.05N~0.5N可調

電容測量范圍：10pF~0.1μF

                  精度：±2%±1pF

溫度范圍：RT~650℃

加熱方式：PID控制

溫度穩定度：±0.05℃（＞25℃），±0.1℃（＜25℃）

軟件功能：可設溫控速率、可設溫控程序、可記錄溫控曲線