華測儀器耐電痕化指數試驗儀

HCLD-2耐電痕化指數試驗儀由華測儀器生產是根據耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）的標準，規定的模擬仿真試驗項目，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化指數(PTI) ，電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯合作用下，在表面（或內部）產生導電通道。

設備軟件

采用高度集成化設計，內置智能測試軟件，通過12寸觸摸屏控制，操作簡單，具備試驗穩定性，并有斷電資料保存功能，可實現數據圖像的保存恢復，支持多種測試標準。

產品特點

1.帶有濾波、隔離變壓器、穩壓變壓器

2.自動化程度高

3.帶有排風口

4.具有數據數顯、存儲功能

5.具有過流保護、過壓保護、門限保護等

產品參數

試驗電壓：100V ~ 1000V（可定制）

控制方式：12寸觸摸屏控制系統

滴液高度：30 ~ 40mm 連續可調

試驗電壓壓降：≤5%

電極距離：4.0mm±0.1mm，夾角 60°±5

電極壓力：1.0±0.05N(可調)

滴液間隔時間：1s ~ 999s

短接電流：1A

試驗艙材料：PC塑料

滴液大小：（20.0 ~ 23.0）mm³連續可調

操控方式：12寸觸摸屏

電極材料：電極頭鉑金

試驗終止：50滴或100滴或漏電流≥0.5A并維持時間≥2s

供電電源：220V 50Hz 10A

應用領域

耐漏電起痕試驗是評價電工電子產品中使用的固體絕緣材料優劣的重要指標，被普遍應用于電工電子、電器、半導體封裝、信息技術設備、改性塑料等領域。