半導體封裝材料高壓TSDC測試系統

產品型號：HC-TSDC

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-02-06

產品簡介：

半導體封裝材料高壓TSDC測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

半導體封裝材料高壓TSDC測試系統由華測儀器生產，高壓TSDC熱刺激電流測試系統用于預測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下。在這種情況下，電荷被分離并在介電材料電子元件中移動。TSDC是一種研究電荷存儲特性的試驗技術，用于確定初始電荷和捕獲電荷的活化能以及弛豫。

產品優勢

除去電網諧波對采集精度的影響

在高阻、弱信號測量過程中、輸入偏置電流和泄漏電流都會引起測量誤差。同時電網中大量使用變頻器等高頻、高功率設備，將對電網造成諧波干擾。以致影響弱信號的采集，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及測試分析技術,實現了高達1fA(10-15A)的測量分辨率,從而滿足了很多半導體,功能材料等器件的測試需求。

除去不規則輸入的自動平均值功能

自動平均值是檢測電流的變化，并自動將其進行平均化的功能，在查看測量結果的同時不需要改變設置。通過自動排除充電電流的過渡響應時或接觸不穩定導致偏差較大。電流輸入端口采用大口徑三軸連接器。

產品參數

溫度范圍：-100~300°C

控溫精度：±0.25°C

升溫斜率：10℃/min（可設定）

測試頻率：電壓上限：±10kV

加熱方式：空氣加熱

降溫方式：液氮

樣品尺寸：φ≤50mm，d≤3mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷/peek

低溫制冷：液氮

測試功能：TSDC

數據傳輸：RS-232