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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào)：HC-RD-1100
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
所在地：北京市
更新日期：2026-03-10
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
華測(cè)儀器HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應(yīng)性、多功能集成等特點(diǎn)，主要服務(wù)于熱電材料研發(fā)、新能源器件測(cè)試及半導(dǎo)體性能分析等領(lǐng)域。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測(cè) |
|---|
HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書(shū)、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
HC-RD-1100半導(dǎo)體塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是一款簡(jiǎn)單易用的材料表征儀器，可以同時(shí)測(cè)定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. 靈活兼容性與操作便捷性
支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤(pán)狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復(fù)雜形狀試樣；
可調(diào)探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結(jié)構(gòu)，保障樣品接觸穩(wěn)定性，減少測(cè)量誤差；
電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應(yīng)對(duì)不同溫區(qū)與材料特性。
2. 高穩(wěn)定性與長(zhǎng)周期測(cè)試能力
電源輸出 0～1A，具備長(zhǎng)期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)采集；
配備K/S/C型熱電偶，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。
產(chǎn)品參數(shù)
01.溫度范圍:RT~800/1100/1200℃
02.測(cè)量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法
03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.可調(diào)探頭距離:4、6、8mm
05.塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍:1~ 2500uV/K準(zhǔn)確度±7%;重復(fù)性±3%
06.電導(dǎo)率測(cè)量范圍:0.01~2*105s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%
京公網(wǎng)安備11011302007502號(hào)