SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：Huace

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-11

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測(cè)試系統(tǒng)

價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

產(chǎn)品參數(shù)

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量電壓:100 ~ 1500V（可定制）

測(cè)試通道:128通道（可定制至高960通道）

測(cè)試時(shí)長(zhǎng):可連續(xù)運(yùn)行1500小時(shí)

測(cè)試溫度:85℃（可定制）

測(cè)試濕度:85%（可定制）

測(cè)量范圍:1×10⁵ ~ 1×10¹⁵Ω

極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）

掃描周期:至快2分鐘（128通道）

應(yīng)用領(lǐng)域

電子材料：印BGA、CSP等節(jié)距IC封裝件

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、密度高的封裝材料

半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評(píng)估