高低溫半導(dǎo)體介質(zhì)絕緣性能檢測(cè)儀

產(chǎn)品型號(hào)：SIR-450

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-06-09

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

華測(cè)儀器SIR-450高低溫半導(dǎo)體介質(zhì)絕緣性能檢測(cè)儀

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SIR-450高低溫半導(dǎo)體介質(zhì)絕緣性能檢測(cè)儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負(fù)阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關(guān)性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴(yán)重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測(cè)量的一個(gè)測(cè)量手段。

多種加溫方式

勻速度加熱試驗(yàn)

階梯式加熱試驗(yàn)

熱循環(huán)試驗(yàn)（僅供反射爐）

降溫試驗(yàn)

加速度升溫（僅供反射爐）

產(chǎn)品參數(shù)

溫度范圍：-100 ~ 350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω ~ 1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220 V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

測(cè)試功能：高低溫電阻率

華測(cè)儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺(tái)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)到整體實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃建設(shè)的全過(guò)程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，華測(cè)儀器可提供從方案設(shè)計(jì)到交付驗(yàn)收的完整服務(wù)。